深圳德诺嘉电子生产的 定制TO247-3pin-5.44-15.7x41.015合金翻盖芯片老化测试座夹具socket 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于TO封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用 适用引脚间距：5.44mm 芯片测试座寿命：10万次 芯片测试电流：1A 芯片测试频率：500Mhz 芯片测试温度：-45~165℃ 芯片测试座结构：翻盖式 芯片测试座材料：铝合金 非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司 工程师技术支持电话微信同号：13715149812
