适用于SOT封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为射频测试使用
适用引脚间距:1.5mm
适用SOT芯片尺寸:4.5*2.5mm
芯片测试座寿命:15万次
芯片测试频率:其中2pin需要过8Ghz
芯片测试插损:不能高于1db
芯片测试回损:<15db
芯片测试频率:170mA
芯片测试插损:不能高于1db
芯片测试回损:<15db
芯片测试频率:170mA
芯片测试温度:-55°~+85°
芯片测试座结构:旋钮双扣式(支持手动测试、自动化测试)
芯片测试座材料:peek
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司