定制SOT23-0.65-2.9x2.8合金顶窗下压芯片老化测试座socket夹具

深圳德诺嘉电子生产的 定制SOT23-0 65-2 9x2 8合金顶窗下压芯片老化测试座socket夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适

  • 引脚数: 8pin
  • 间距: 0.65mm
深圳德诺嘉电子生产的  定制SOT23-0.65-2.9x2.8合金顶窗下压芯片老化测试座socket夹具 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于SOT封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.65mm
适用芯片尺寸:2.9*2.8mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:下压式
芯片测试座材料:铝合金
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812