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IC导通测试、功能性测试
可靠性测试、逻辑测试、高性能测试
IC老化测试、HAST测试
HTOL测试、老化测试解决方案
IC编程烧录、IC读写
DIP转接、IC编程器
德诺嘉电子最新一代MEMS探针卡-晶圆测试垂直探针卡，提供完善的整套测试解决方案
主营：半导体老化耗材、集成电路IC测试耗材、半导体探针卡、IC/模块测试座、连接器测试微针模组、DDR系列测试夹具治具
Perfect solution.
Delivery on time and in full.
Win-win cooperation.
24-hour service.
定制测试座接触方式:探针或者弹片
定制测试座间距:20.2mm
定制测试座频率:≤100Ghz
定制测试座单Pin过流:Max.1.5A
定制测试座材料:PEEK/PAI/PEI等.
高精度芯片定位以及PCB精准固定; 根据芯片引脚的物理结构不同制定不同 的接触探针结构以及头型，完美匹配芯 片引脚，保证芯片测试准确性; 根据不同测试采用对应要求的材料，在 保证测试要求的基础上，为客户节省成 本: 采用耐磨耐久性高的塑料，保证测试座长期使用寿命，更加进一步为客户平摊测试成本;
芯片测试座
光电模块测试夹具
芯片防静电测试座
定制测试治具接触方式:探针或者弹片
定制测试治具间距:20.2mm
定制测试治具频率:≤100Ghz
定制测试治具单Pin过流:Max.1.5A
定制测试治具材料:PEEK/PAI/PEI等
可定制治具:大电流模块治具、CPU治具、
WIFI模块治具、FPGA治具、光电模块治具等
基于客户现有测试板来设计，无需重新设计测试架构与软件设计，大大降低开发测试的成本:灵活设计与跟进该主板的物理结构避空以及转接治具遮挡的接口，保证测试以及接口的完整性;模块化结构设计，能单独维护以及更换，方便配件更换，低成本延迟测试治具的生命周期;
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