QFN48pin芯片老化测试座socket

深圳德诺嘉电子生产的QFN48pin芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN48pin芯片适用测试环境：老化、测试、烧录

QFN芯片老化座产品简介：

芯片测试电流：500mA

芯片测试频率：360Mhz

芯片老化测试温度：-40°~+150°

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

QFN48pin芯片老化座规格参数：

芯片封装类型：QFN

芯片引脚：48pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：7*7mm

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