QFN48pin芯片老化测试座—QFN测试座socket（现货标品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN48pin芯片老化测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款QFN芯片老化座适用环境：老化、测试、烧录

适用老化测试温度：-45°~+155°

老化测试结构：翻盖式

老化座材料：塑胶

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QFN48pin芯片老化测试座规格参数：

芯片封装类型：QFN

芯片引脚：48pin

芯片引脚间距：1.0mm

适配芯片尺寸：16.7*16.7mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095 高工

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