QFN24芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具—QFN老化座（定制品）

QFN24pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具深圳德诺嘉电子生产的QFN24pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN24pin芯片测试夹具规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：24pin

芯片引脚间距：0.4mm

适配芯片尺寸：3*3mm

QFN24pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：12.5Mhz

芯片测试电流：单pin满足3A

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

工程师技术支持电话微信同号：13267043095