QFN28芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具—QFN老化座（现货标品）

QFN28pin芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具

QFN28pin芯片老炼夹具规格参数：

深圳德诺嘉电子生产的QFN28pin芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN28pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN28pin芯片老化测试座产品简介：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：28pin

芯片引脚间距：0.4mm

适配芯片尺寸：3.5*3.5mm

芯片测试频率：9.2Mhz

芯片测试电流：300mA

芯片老化测试要求：-45°~+135°，持续时长：1000小时

QFN芯片老炼夹具结构：翻盖式

芯片老化测试座材料：PEI

工程师技术支持电话微信同号：13267043095