QFN28分离式手自一体测试座socket—QFN芯片测试夹具—QFN28老化座（现货标品）

QFN28分离式手自一体测试座socket—QFN芯片测试夹具

深圳德诺嘉电子生产的QFN28分离式手自一体测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN28pin芯片测试环境：芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款支持ATE自动化测试，手自一体测试座

QFN28pin芯片测试座产品简介：

QFN28pin芯片测试夹具规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：28pin

芯片引脚间距：0.4mm

适配芯片尺寸：7*7mm

芯片厚度：0.75mm

芯片测试频率：9.2Mhz

芯片测试电流：6mA

芯片测试温度：-45°~+125°，持续时长：满足1000小时

芯片测试夹具结构：分离式手自一体

芯片测试socket材料：PEEK

工程师技术支持电话微信同号：13267043095