QFN16pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具（现货标品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN16pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN16pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试，芯片可靠性测试

QFN16pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片测试频率：小于500Mhz

芯片测试电压：300mA

芯片测试温度：-45°~+125°，85%相对湿度，单次时长260小时

芯片老炼夹具结构：翻盖式

芯片老化座材料：PEI

QFN16pin芯片老化测试夹具规格尺寸：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：16pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：3*3mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095