QFN56pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN56pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN56pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

QFN56pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：4Ghz

芯片测试电流：小于1A

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

QFN56pin芯片测试座socket规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：56pin

芯片引脚间距：0.35mm

适配芯片尺寸：6*6mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095