您现在所在位置:首页>>产品中心>>QFN/DFN封装系列

新能源功率元器件系列

IC老化板方案

BGA封装系列

QFN/DFN封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

SOT封装系列

LCC封装系列

LGA封装系列

EMCP/EMMC/UFS系列

电容电阻系列

晶振系列

DDR系列测试夹具

IC测试治具

模块测试座

FPC/BTB连接器微针模组

MEMS探针卡

SMA/SMB/SMC/SMD封装

DFN8pin芯片测试座socket—DFN封装器件测试夹具(现货标品)

发布日期:2024-11-11 09:46:25浏览次数:10
  • QFN测试夹具
  • QFN老化座
  • QFN烧录座
  • QFN编程座

深圳德诺嘉电子生产的DFN8pin芯片测试座socket—DFN封装器件测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN8pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

DFN8pin芯片测试夹具产品简介:

芯片测试电压:1000V

芯片测试电流:1A以内

芯片测试温度:-45°~150°

芯片测试座结构:翻盖式

芯片测试夹具材料:PEI

DFN8pin芯片测试座规格参数:

芯片封装形式:DFN

芯片引脚:8pin

芯片引脚间距:0.65mm

适配芯片尺寸:3*3mm

工程师技术支持电话微信同号:13267043095 



13715149812