QFN24pin芯片测试座—QFN老化座socket—qfn芯片测试夹具（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN24pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能行测试

QFN24pin芯片测试夹具产品简介：

芯片工作速率：不小于200Mbps

芯片测试温度：-45°~+135°

芯片测试座寿命：不小于2万小时（120°工作条件下）

芯片测试电流：800mA

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

QFN24pin芯片测试座socket规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：24pin

芯片引脚间距：0.35mm

适配芯片尺寸：3*3mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095 高工

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