QFN28pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具（定制品）

QFN28pin芯片测试夹具规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：28pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：4*4mm

深圳德诺嘉电子生产的QFN28pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN28pin芯片老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

QFN28pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：2.5A

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试功耗：3.5W

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座socket材料：合金

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