QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座(现货标品)

鸿怡电子生产的QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用测试环境：芯片老化、测试、烧录

QFP100pin芯片老化座产品简介：

老化测试温度：-45°~+155°

芯片测试电压：2V

芯片测试电流：500mA

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

QFP100pin芯片测试座规格参数：

芯片封装类型：QFP

芯片引脚：100pin

芯片引脚间距：0.65mm

芯片本体尺寸：20*20mm

含引脚尺寸：24*24mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095 高工

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