3225-4pin晶振下压老化测试座socket—晶振老炼测试夹具（标准品）

深圳德诺嘉电子生产的3225-4pin晶振下压老化测试座socket—晶振老炼测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于晶振模拟电路测试、烧录、老化，该款为老化测试使用

适用引脚间距：1.27mm

适用晶振尺寸：3.2*2.5mm

晶振测试座寿命：10万次

晶振测试电流：1A

晶振测试频率：500Mhz

晶振测试温度：-45~165℃

晶振测试座结构：下压式

晶振测试座材料：PPS

生产厂家：深圳德诺嘉电子有限公司

订购热线：13823541217

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