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3225晶振4pin—一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具(定制品)

发布日期:2024-11-07 15:02:39浏览次数:17
  • 3225晶振测试座
  • 3225晶振老化座
  • 3225晶振烧录座
  • 3225晶振翻盖测试座

深圳德诺嘉电子生产的3225晶振4pin一拖十六翻盖测试座socket—晶振测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用3225晶振4pin测试环境:老化、测试、烧录

3225晶振4pin测试座产品简介:

晶振测试电流:25mA

晶振测试频率:60Mhz

测试温度:-40°~+85°

晶振测试座结构:翻盖式(开天窗)

3225晶振4pin一拖十六工位测试座规格参数:

引脚:4pin

引脚间距:2.24mm

适配尺寸:3.2*2.5mm

一拖十六工位(开天窗)

天窗尺寸:1.5*1.5mm

工程师技术支持电话微信同号:13267043095 高工

(电话微信同号)



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