3225-8翻盖晶振老化测试座—晶振测试座（定制品）

德诺嘉电子生产定制的3225-8Pin-0.825mm塑胶翻盖晶振老化测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用3225系列晶振测试环境：老炼、测试、烧录，老化功能测试。

3225-8pin晶振老化测试座产品简介：

晶振测试频率：单pin过3Ghz@-1db

晶振测试电流：单pin小于500mA

老炼测试要求：需要兼容HTOL和HAST测试：125°*1000小时，双85°的HAST*1000小时

晶振老化座结构：翻盖式

晶振老炼夹具材料：PEI

3225-8pin晶振老炼夹具规格参数：

生产品牌厂家：德诺嘉电子

晶振型号：3225

引脚：8pin

引脚间距：0.825mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095