晶振2016-4L塑胶翻盖测试座——晶振测试座（现货标品）

德诺嘉电子生产定制的HMILU定制晶振2016-4L塑胶翻盖测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于晶振2016-4L测试环境：老化、测试，晶振温循测试

晶振2016-4L测试夹具产品简介：

晶振测试温度：-55°~+145°高低温循环测试，持续时长：10小时

晶振测试座结构：翻盖式

晶振测试夹具材料：PE

晶振2016-4L测试socket规格参数：

生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU

封装类型：晶振2016

引脚：4pin

晶振尺寸：2.0*1.6mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095