深圳德诺嘉电子生产的BGA152/132/88pin-1.0mm翻盖双面弹一拖二测试座
(此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上)
BGA152翻盖弹片一拖二测试座是我公司为了FLASH行 业研发的低成本解决方案,翻盖操作取换芯片简单,
大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,
这种结构加上进 口铍 铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,
更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的可以有球无球残球均可测试!
而其他品牌只能测试新的有球 的芯片。
产品简介
产品用途:编程座、测试座,对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据
适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0
特别说明:暂时只能持TLC等级的FLASH,支持8CE以下的芯片
SM2256K主控
产品特点
1. 可以测试8CE的BGA152/132的FLASH,除此之外更加适合大批量测试BGA152的客户
2.它与测试板的接触是直接pin to pin的接触,采用的双头弓形弹片结构,
不需要焊在测试板上面,测试座通过双面有弹性的pin针直接顶在焊盘上面,接触稳定,
例如说更换2246EN的测试板,只需要把测试座四周的螺丝取掉,锁在需要的测试板上面就可以了
工程师技术支持电话微信同号:13267043095