DIP34合金旋钮翻盖芯片测试座—DIP测试座（定制品）

德诺嘉电子生产定制的DIP34pin-3.8mm-57.1x89.3mm合金旋钮翻盖芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于DIP34pin芯片测试环境：模拟电路导通测试、老化、烧录，转接测试

DIP34pin芯片测试座产品简介：

芯片测试速率：100M

芯片测试电流：200mA

芯片测试温度：100°

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

DIP34pin芯片测试座规格参数：

生产品牌厂家：德诺嘉芯片封装形式：DIP

芯片引脚：34pin

芯片引脚间距：3.8mm

适配芯片尺寸;57.1*89.3

接触介质：探针

测试插座结构：旋钮翻盖式

测试座材料：合金、PEEK

工程师技术支持电话微信同号：13267043095