网站首页
产品中心
新能源功率元器件系列
IC老化板方案
BGA封装系列
QFN/DFN封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
SOT封装系列
LCC封装系列
LGA封装系列
EMCP/EMMC/UFS系列
WLCSP/CSP封装系列
电容电阻系列
晶振系列
DDR系列测试夹具
IC测试治具
模块测试座
FPC/BTB连接器微针模组
MEMS探针卡
SMA/SMB/SMC/SMD封装
其他IC测试座
产品专题
新闻中心
公司资讯
行业动态
常见问题
合作案例
IC测试座结构案例
IC老化板案例
联系我们
关于我们
企业文化
企业风采
公司资质
企业邮箱：dong@dnjsocket.com
您现在所在位置：
首页
>>
产品中心
新能源功率元器件系列
IC老化板方案
BGA封装系列
QFN/DFN封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
SOT封装系列
LCC封装系列
LGA封装系列
EMCP/EMMC/UFS系列
WLCSP/CSP封装系列
电容电阻系列
晶振系列
DDR系列测试夹具
IC测试治具
模块测试座
FPC/BTB连接器微针模组
MEMS探针卡
SMA/SMB/SMC/SMD封装
其他IC测试座
QFN88-0.4(10*10)翻盖弹片低温老化测试座 芯片夹具 老炼烧录座
LGA48pin-1.27mm-21x16mm合金旋钮探针芯片测试座（定制品）
LGA54pin-1.0mm-10x6.4mm合金翻盖芯片测试座socket（定制品）
LGA11pin-0.65mm-3X3.3mm塑胶翻盖探针芯片测试座（定制品）
定制LGA12pin-0.5mm-2X2mm一拖一合金旋钮翻盖式芯片ATE自动化测试座（定制品）
定制QFN88-0.35(9*9)合金翻盖探针测试座带接地(GND)老化座socket
TO-6pin直插式老化座 军工级元器件测试夹具 穿孔焊接款老炼座
定制LGA55pin-2.0mm-24x12mm合金翻盖探针芯片测试座（定制品）
定制LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具（定制品）
共590条 当前9/66页
首页
前一页
···
7
8
9
10
11
···
后一页
尾页
友情链接:
粤ICP备2024195031号-1
XML地图
13715149812
微信号：13715149812
微信二维码
