QFN20芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具—QFN老化座（定制品）

QFN20pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具

深圳德诺嘉电子生产的QFN20pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN20pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN20pin芯片测试夹具规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：20pin

芯片引脚间距：0.4mm

适配芯片尺寸：3*3mm

QFN20pin芯片测试socket产品简介：

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试电流：500mA

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试夹具结构：旋钮栓口试

芯片测试座材料：合金

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