深圳德诺嘉电子生产的BGA96pin-0.8mm间距转DIP96pin翻盖老化测试座
产品用途:测试座,对BGA96pin的IC芯片进行测试
适用封装:BGA96pin 引脚间距0.8mm
特点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。翻盖换取芯片方便,操作简单
封装类型:BGA
PIN脚:96pin
引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:11.6×7.95mm
阵距:12×8mm
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