您现在所在位置:首页>>产品中心>>BGA封装系列

新能源功率元器件系列

IC老化板方案

BGA封装系列

QFN/DFN封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

SOT封装系列

LCC封装系列

LGA封装系列

EMCP/EMMC/UFS系列

电容电阻系列

晶振系列

DDR系列测试夹具

IC测试治具

模块测试座

FPC/BTB连接器微针模组

MEMS探针卡

SMA/SMB/SMC/SMD封装

定制BGA338测试夹具—BGA338封装塑胶旋钮探针芯片测试座—BGA测试座(定制品)

发布日期:2024-11-15 16:56:55浏览次数:14
  • BGA测试座
  • BGA老化座
  • BGA翻盖旋钮测试座
  • BGA烧录座

深圳德诺嘉电子生产定制的BGA338pin-0.65mm-13x13mm测试夹具,BGA封装塑胶旋钮探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于BGA338pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

BGA338pin芯片测试夹具产品简介:

芯片测试频率:小于800Ghz@-1db

芯片测试电流:满足单pin1A以内

芯片测试温度:-45°~+135°,芯片老化测试持续时长:100h

BGA338pin芯片测试座socket规格参数:

生产品牌厂家:德诺嘉电子

芯片封装形式:BGA

芯片引脚:338pin

芯片引脚间距:0.65mm

适配芯片尺寸:13*13mm

测试座接触介质:探针

芯片测试座材料:PEI

芯片测试座结构:旋钮翻盖式

工程师技术支持电话微信同号:13267043095


13715149812