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BGA608合金旋钮探针光电模块测试座—BGA烧录座—BGA测试座(定制品)

发布日期:2024-11-15 17:12:08浏览次数:11
  • bga老化座
  • bga烧录座
  • bga测试座
  • BGA芯片测试座

德诺嘉电子生产定制的BGA608(实际下针267pin)-0.5mm-14.5x12.4mm合金旋钮探针光电模块测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用BGA608pin光电模块测试环境:老化、测试、烧录,模块可靠性测试、模块功能性测试、模块高性能测试

BGA608pin光电模块测试座产品简介:

模块测试电流:300mA

模块测试频率:800Mhz

模块测试温度:-45°~+125°

光电模块测试座结构:旋钮翻盖式

模块测试座材料:合金

BGA608pin光电模块测试座socket规格参数:

生产品牌厂家:德诺嘉电子

模块封装形式:BGA

模块引脚:608pin(实际下针267pin)

模块引脚间距:0.5mm

适配模块尺寸:14.5*12.4mm

工程师技术支持电话微信同号:13267043095


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