德诺嘉电子生产定制的BGA225pin-1.27mm-20x20mm合金旋钮翻盖式芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用BGA225pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
BGA225pin芯片测试座产品简介:
1.绝缘电阻:1000Mohm min at 100VDC
2.电介质耐受电压:100VAC,持续一分钟
3.接触电阻:100mΩ内
4.温度:-40°C~+155°C,老化时长1000h
芯片测试座结构:旋钮翻盖式
芯片测试夹具材料:合金
BGA225pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:德诺嘉电子
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:225pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:20*20mm
工程师技术支持电话微信同号:13267043095